76 |
ГОСТ 18986.4-73 |
Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости |
01.01.1975 |
действующий |
| Англ. название: Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод Нормативные ссылки: ГОСТ 10964-64СТ СЭВ 2769-80IEC 60147-2M;ГОСТ 18986.0-74 |
77 |
ГОСТ 18986.5-73 |
Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения |
01.01.1975 |
действующий |
| Англ. название: Semiconductor diodes. Method for measuring transition time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 19656.0-74 |
78 |
ГОСТ 18986.6-73 |
Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления |
01.01.1975 |
действующий |
| Англ. название: Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3198-81ГОСТ 18986.0-74 |
79 |
ГОСТ 18986.7-73 |
Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда |
01.01.1975 |
действующий |
| Англ. название: Semiconductor diodes. Methods for measuring life time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ. Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 18986.6-73;ГОСТ 19656.0-74 |
80 |
ГОСТ 18986.8-73 |
Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления |
01.01.1975 |
действующий |
| Англ. название: Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74 |
81 |
ГОСТ 18986.9-73 |
Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления |
01.01.1975 |
действующий |
| Англ. название: Semiconductor diodes. Method for measuring pulse direct voltage and forword recovery time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления Нормативные ссылки: ГОСТ 10965-64ГОСТ 18986.0-74;СТ СЭВ 3198-81 |
82 |
ГОСТ 18986.10-74 |
Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности |
01.07.1976 |
действующий |
| Англ. название: Semiconductor diodes. Methods for measuring inductance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов: метод I - для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более; метод II - для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 19656.0-74 |
83 |
ГОСТ 18986.11-84 |
Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь |
01.07.1985 |
действующий |
| Англ. название: Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь: для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц; для туннельных диодов Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.11-74СТ СЭВ 3199-81IEC 60147-2F;ГОСТ 18986.0-74 |
84 |
ГОСТ 18986.12-74 |
Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода |
01.07.1976 |
действующий |
| Англ. название: Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимости Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 18986.11-74 |
85 |
ГОСТ 18986.13-74 |
Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора |
01.07.1976 |
действующий |
| Англ. название: Semiconductor tunnel diodes. Methods for measuring peak point current, valley point current, peak point voltage, valley point voltage, projected peak point voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения параметров вольтамперной характеристики диода: пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74 |
86 |
ГОСТ 18986.14-85 |
Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений |
01.07.1986 |
действующий |
| Англ. название: Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод. Стандарт не распространяется на стабилитроны Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.14-75;ГОСТ 19656.8-74CT CЭB 2769-80ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 19656.0-74 |
87 |
ГОСТ 18986.15-75 |
Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации |
01.01.1977 |
действующий |
| Англ. название: Reference diodes. Method of measuring stabilization voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения напряжения стабилизации Нормативные ссылки: ГОСТ 14093-68СТ СЭВ 3200-81IEC 60147-2M;ГОСТ 8.401-80;ГОСТ 18986.0-74 |
88 |
ГОСТ 18986.16-72 |
Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока |
01.01.1974 |
действующий |
| Англ. название: Rectifier diodes. Methods of measuring average forward voltage and average reverse current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые выпрямительные диоды малой и средней мощности, полупроводниковые выпрямительные столбы и устанавливает метод измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока Нормативные ссылки: IEC 60147-2A;ГОСТ 18986.0-74 |
89 |
ГОСТ 18986.17-73 |
Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации |
01.07.1974 |
действующий |
| Англ. название: Reference diodes. Method of measuring of temperature coefficient of working voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3200-81IEC 60147-2M;ГОСТ 18986.0-74 |
90 |
ГОСТ 18986.18-73 |
Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости |
01.07.1974 |
действующий |
| Англ. название: Variable capacitance diodes. Method of measuring temperature coefficient of capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы, предназначенные для работы в диапазоне частот 0,25-1000 Гц, и устанавливает метод измерения температурного коэффициента емкости Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3199-81ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 18986.4-73 |