юридическая фирма 'Интернет и Право'
Основные ссылки



Яндекс цитирования

Рассылка 'BugTraq: Закон есть закон'





Каталог ГОСТ

Актуальность базы: 10.10.2019, объем: 44,047 документа(ов)

Для отображения списка документов выберите категорию из классификатора каталога ГОСТов.
Чтобы отобразить подкатегории классификатора ГОСТ, кликните по иконке со знаком плюс
и дождитесь подгрузки подкатегорий в нижней части экрана.
Если наименование ГОСТа заранее известно, можете воспользоваться формой поиска ниже.
Полный перечень ГОСТ в базе (алфавитный порядок)

Поиск: Где искать:
Отображать: Упорядочить:
везде в текущем разделе
Номер Название Дата введения Статус
76 ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости 01.01.1975 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод
Нормативные ссылки: ГОСТ 10964-64
77 ГОСТ 18986.5-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения 01.01.1975 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Method for measuring transition time
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения
78 ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления 01.01.1975 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления
79 ГОСТ 18986.7-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда 01.01.1975 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Methods for measuring life time
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ.
Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ
80 ГОСТ 18986.8-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления 01.01.1975 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления
81 ГОСТ 18986.9-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления 01.01.1975 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Method for measuring pulse direct voltage and forword recovery time
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
Нормативные ссылки: ГОСТ 10965-64
82 ГОСТ 18986.10-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности 30.06.1976 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Methods for measuring inductance
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов:
метод I - для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более;
метод II - для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн
83 ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь 30.06.1985 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь:
для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц;
для туннельных диодов
Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.11-74
84 ГОСТ 18986.12-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода 30.06.1976 действующий
 
Англ. название: Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимости
85 ГОСТ 18986.13-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора 30.06.1976 действующий
 
Англ. название: Semiconductor tunnel diodes. Methods for measuring peak point current, valley point current, peak point voltage, valley point voltage, projected peak point voltage
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения параметров вольтамперной характеристики диода: пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора
86 ГОСТ 18986.14-85 Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений 30.06.1986 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод.
Стандарт не распространяется на стабилитроны
Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.14-75 ГОСТ 19656.8-74
87 ГОСТ 18986.15-75 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации 01.01.1977 действующий
 
Англ. название: Reference diodes. Method of measuring stabilization voltage
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения напряжения стабилизации
Нормативные ссылки: ГОСТ 14093-68
88 ГОСТ 18986.16-72 Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока 01.01.1974 действующий
 
Англ. название: Rectifier diodes. Methods of measuring average forward voltage and average reverse current
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые выпрямительные диоды малой и средней мощности, полупроводниковые выпрямительные столбы и устанавливает метод измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока
89 ГОСТ 18986.17-73 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации 30.06.1974 действующий
 
Англ. название: Reference diodes. Method of measuring of temperature coefficient of working voltage
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации
90 ГОСТ 18986.18-73 Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости 30.06.1974 действующий
 
Англ. название: Variable capacitance diodes. Method of measuring temperature coefficient of capacitance
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы, предназначенные для работы в диапазоне частот 0,25-1000 Гц, и устанавливает метод измерения температурного коэффициента емкости

 

Источник информации: https://www.internet-law.ru/gosts/2828/?f1=&f2=0&f3=0&f4=0&p=5

 

На эту страницу сайта можно сделать ссылку:

 


 

Произвольная ссылка:

Уважаемый посетитель!

Вы, кажется, используете блокировщик рекламы.

Пожалуйста, отключите его для корректной работы сайта.