юридическая фирма 'Интернет и Право'
Основные ссылки







Яндекс цитирования

Рассылка 'BugTraq: Закон есть закон'



Rambler's Top100



Каталог ГОСТ

Актуальность базы: 01.06.2019, объем: 43,676 документа(ов)

Для отображения списка документов выберите категорию из классификатора каталога ГОСТов.
Чтобы отобразить подкатегории классификатора ГОСТ, кликните по иконке со знаком плюс
и дождитесь подгрузки подкатегорий в нижней части экрана.
Если наименование ГОСТа заранее известно, можете воспользоваться формой поиска ниже.
Полный перечень ГОСТ в базе (алфавитный порядок)

Поиск: Где искать:
Отображать: Упорядочить:
везде в текущем разделе
Номер Название Дата введения Статус
31 ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока 01.01.1975 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки
Нормативные ссылки: ГОСТ 10961-64
32 ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости 01.01.1975 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод
Нормативные ссылки: ГОСТ 10964-64
33 ГОСТ 18986.9-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления 01.01.1975 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Method for measuring pulse direct voltage and forword recovery time
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
Нормативные ссылки: ГОСТ 10965-64
34 ГОСТ 18986.12-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода 30.06.1976 действующий
 
Англ. название: Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимости
35 ГОСТ 18986.13-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора 30.06.1976 действующий
 
Англ. название: Semiconductor tunnel diodes. Methods for measuring peak point current, valley point current, peak point voltage, valley point voltage, projected peak point voltage
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения параметров вольтамперной характеристики диода: пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора
36 ГОСТ 18986.15-75 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации 01.01.1977 действующий
 
Англ. название: Reference diodes. Method of measuring stabilization voltage
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения напряжения стабилизации
Нормативные ссылки: ГОСТ 14093-68
37 ГОСТ 18986.16-72 Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока 01.01.1974 действующий
 
Англ. название: Rectifier diodes. Methods of measuring average forward voltage and average reverse current
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые выпрямительные диоды малой и средней мощности, полупроводниковые выпрямительные столбы и устанавливает метод измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока
38 ГОСТ 18986.17-73 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации 30.06.1974 действующий
 
Англ. название: Reference diodes. Method of measuring of temperature coefficient of working voltage
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации
39 ГОСТ 18986.18-73 Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости 30.06.1974 действующий
 
Англ. название: Variable capacitance diodes. Method of measuring temperature coefficient of capacitance
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы, предназначенные для работы в диапазоне частот 0,25-1000 Гц, и устанавливает метод измерения температурного коэффициента емкости
40 ГОСТ 18986.19-73 Варикапы. Метод измерения добротности 01.01.1975 действующий
 
Англ. название: Variable capacitance diodes. Method for measuring the quality factor
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикапов
41 ГОСТ 18986.20-77 Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим 01.01.1979 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим tвых. и требования безопасности
42 ГОСТ 18986.21-78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации 01.01.1980 действующий
 
Англ. название: Reference diodes and stabistors. Method for measuring time drift of working voltage
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и стабисторы и устанавливает метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации
43 ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления 01.01.1980 действующий
 
Англ. название: Reference diodes. Methods for measuring differential resistance
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения дифференциального сопротивления: на переменном токе; на постоянном токе
Нормативные ссылки: ГОСТ 15603-70
44 ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума 01.01.1982 действующий
 
Англ. название: Zener diodes. Methods for measuring spectral noise density
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума:
метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц;
метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц
45 ГОСТ 19138.0-85 Тиристоры. Общие требования к методам измерения параметров 01.01.1987 действующий
 
Англ. название: Thyristors. General requirements for methods of measuring parameters
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на тиристоры и устанавливает общие требования к методам измерения параметров.
Стандарт не распространяется на силовые тиристоры
Нормативные ссылки: ГОСТ 19138.0-74

 

Источник информации: https://www.internet-law.ru/gosts/35469/?f1=&f2=0&f3=0&f4=0&p=2

 

Добавить эту страницу в закладки:

 


 

Произвольная ссылка:

Разработка сайта
ArtStyle Group

Уважаемый посетитель!

Вы, кажется, используете блокировщик рекламы.

Пожалуйста, отключите его для корректной работы сайта.