| 61 |
ГОСТ 20398.7-74 |
Транзисторы полевые. Методы измерения порогового напряжения и напряжения отсечки |
01.07.1976 |
действующий |
| | Англ. название: Field-effect transistors. Threshold and cut-off voltage measurement technique Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полевые транзисторы и устанавливает метод измерения порогового напряжения и напряженя отсечки Нормативные ссылки: ГОСТ 20398.0-74 |
| 62 |
ГОСТ 20398.8-74 |
Транзисторы полевые. Метод измерения начального тока стока |
01.07.1976 |
действующий |
| | Англ. название: Field-effect transistors. Drain current for V(Gs)=0 measurement technique Область применения: Настоящий стандарт распространяется на маломощные полевые транзисторы и устанавливает метод измерения начального тока стока Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3413-81ГОСТ 20398.0-74 |
| 63 |
ГОСТ 23203-78 |
Варисторы. Ряды токов и классификационных напряжений |
01.07.1979 |
действующий |
| | Англ. название: Varistors. Series of currents and classification voltages Область применения: Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые варисторы и устанавливает ряды предпочтительных значений для выбора токов и классификационных напряжений |
| 64 |
ГОСТ 24428-80 |
Лазеры газовые. Общие технические условия |
01.07.1982 |
действующий |
| | Англ. название: Gas lasers. General specifications Область применения: Настоящий стандарт распространяется на газовые лазеры, предназначенные для использования в качестве источника когерентного излучения в оптическом диапазоне спектра в различных устройствах производственно-технического назначения. Стандарт распространяется также на составные части лазера (за исключением активного элемента) - при самостоятельной поставке Нормативные ссылки: ГОСТ 2.124-85;ГОСТ 12.1.006-84;ГОСТ 12.1.040-83;ГОСТ 12.4.026-76;ГОСТ 27.410-87;ГОСТ 12090-80;ГОСТ 14192-96;ГОСТ 15150-69;ГОСТ 21130-75 |
| 65 |
ГОСТ 24458-80 |
Оптопары полупроводниковые. Основные параметры |
01.01.1982 |
действующий |
| | Англ. название: Semiconductor optoelectronic couplers. Essential parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на диодные, транзисторные и тиристорные оптопары, предназначенные для использования в радиоэлектронной аппаратуре, и устанавливает ряды основных электрических параметров |
| 66 |
ГОСТ 25212-82 |
Лазеры. Методы измерения энергии импульсов излучения |
01.01.1983 |
утратил силу в РФ |
| | Англ. название: Lasers. Methods for measurement of one pulse energy Область применения: Настоящий стандарт устанавливает методы измерения энергии излучения лазеров, работающих в режиме однократного импульса, серии импульсов и периодической последовательности импульсов (частотном): - метод прямых измерений; - метод измерения с использованием ослабителя; - метод измерения с использованием измерителя средней мощности; - метод измерения с использованием формирователя серии импульсов Нормативные ссылки: ГОСТ Р ИСО 11554-2008ГОСТ 8.207-76;ГОСТ 24286-88;ГОСТ 24453-80;ГОСТ 24714-81;ГОСТ 25213-82 |
| 67 |
ГОСТ 25213-82 |
Лазеры. Методы измерения длительности и частоты повторения импульсов излучения |
01.07.1983 |
действующий |
| | Англ. название: Methods for measurement of the pulse length and the pulse repetition frequency Область применения: Настоящий стандарт устанавливает два метода измерения длительности и частоты повторения импульсов излучения лазеров, работающих в режиме однократного импульса. серии импульсов и периодической последовательности импульсов (частотном): А - метод непосредственной оценки; Б - метод, основанный на воспроизведении формы импульса излучения Нормативные ссылки: ГОСТ 24714-81 |
| 68 |
ГОСТ 25368-82 |
Средства измерений максимальной мощности импульсного лазерного излучения. Типы и основные параметры. Методы измерений |
01.07.1983 |
действующий |
| | Англ. название: Means for measurement of pulse laser radiation maximum power. Types and main parameters. Measuring methods Область применения: Настоящий стандарт распространяется на образцовые и рабочие средства измерений максимальной мощности импульсного лазерного излучения и устанавливает их типы, основные параметры и характеристики, а также методы измерения основных параметров и характеристик при изменении параметров исследуемого излучения. Настоящий стандарт не распространяется на измерительные генераторы импульсов оптического излучения Нормативные ссылки: ГОСТ 8.198-76;ГОСТ 24469-80 |
| 69 |
ГОСТ 25369-82 |
Фотоэлементы измерительные. Основные параметры. Методы измерений основных параметров |
01.07.1983 |
действующий |
| | Англ. название: Measuring photocells. Basic parameters, measuring methods of basic parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на фотоэлементы измерительные, предназначенные для использования в качестве средств измерений мощности и динамических характеристик оптического излучения, и устанавливает перечень основных параметров и методы их измерений. Настоящий стандарт не распространяется на фотоэлементы, поставляемые как комплектующие изделия для средств измерений Нормативные ссылки: ГОСТ 8.198-76;ГОСТ 8.207-76;ГОСТ 12.2.003-74;ГОСТ 4248-78;ГОСТ 9411-81;ГОСТ 24469-80 |
| 70 |
ГОСТ 25370-82 |
Фотоумножители измерительные. Основные параметры. Методы измерений основных параметров |
01.07.1983 |
действующий |
| | Англ. название: Measuring photomultipliers. Basic parameters, measuring methods of basic parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители измерительные (ФЭУ), предназначенные для использования в качестве средств измерений мощности и динамических характеристик оптического излучения, и устанавливает перечень основных параметров и методы их измерений. Настоящий стандарт не распространяется на фотоэлементы, поставляемые как комплектующие изделия для средств измерений Нормативные ссылки: ГОСТ 8.207-76;ГОСТ 12.2.003-74;ГОСТ 12.3.019-80;ГОСТ 24469-80 |
| 71 |
ГОСТ 25373-82 |
Лазеры измерительные. Типы, основные параметры и технические требования |
01.07.1984 |
утратил силу в РФ |
| | Англ. название: Measuring lasers. Types. Basic parameters. Technical requirements Область применения: Настоящий стандарт устанавливает типы, основные параметры и технические требования к измерительным лазерам непрерывного и импульсного режима работы, предназначенным для использования в составе поверочных установок и средств измерения энергетических, спектральных, пространственных и временных параметров лазерного излучения Нормативные ссылки: ГОСТ Р ИСО 11554-2008ГОСТ 8.009-84;ГОСТ 8.401-80;ГОСТ 24469-80;ГОСТ 24714-81 |
| 72 |
ГОСТ 25786-83 |
Лазеры. Методы измерений средней мощности, средней мощности импульса, относительной нестабильности средней мощности лазерного излучения |
01.07.1984 |
действующий |
| | Англ. название: Lasers. Measuring methods of average power, pulse average power, relative average power instability Область применения: Настоящий стандарт распространяется на лазеры и излучатели лазеров непрерывного и импульсного режимов работы в диапазоне длин волн 0,25-11,8 мкм Нормативные ссылки: ГОСТ 24714-81;ГОСТ 25213-82 |
| 73 |
ГОСТ 25819-83 |
Лазеры. Методы измерения максимальной мощности импульсного лазерного излучения |
01.01.1984 |
действующий |
| | Англ. название: Lasers. Methods of pulse laser radiation peak power measurement Область применения: Настоящий стандарт распространяется на лазеры импульсного режима работы и излучатели к ним и устанавливает два метода измерения максимальной мощности импусльного лазерного излучения: метод прямых измерений максимальной мощности; метод косвенных измерений максимальной мощности Нормативные ссылки: ГОСТ 8.198-76;ГОСТ 8.207-76;ГОСТ 24469-80;ГОСТ 24714-81 |
| 74 |
ГОСТ 26086-84 |
Лазеры. Методы измерения диаметра пучка и энергетической расходимости лазерного излучения |
01.07.1985 |
действующий |
| | Англ. название: Lasers. Methods for measurement of beam diameter and beam energy divergence angle Область применения: Настоящий стандарт распространяется на лазеры непрерывного и импульсного режимов работы и устанавливает методы измерения: - диаметра пучка излучения: - метод калиброванных диафрагм, - метод распределения плотности энергии (мощности) лазерного излучения; - энергетической расходимости лазерного излучения: - метод фокального пятна, - метод двух сечений Нормативные ссылки: ГОСТ 24714-81;ГОСТ 25212-82;ГОСТ 25786-83;ГОСТ 25917-83 |
| 75 |
ГОСТ 28624-90 |
Приборы полупроводниковые. Часть 11. Групповые технические условия на дискретные приборы |
01.01.1991 |
действующий |
| | Англ. название: Semiconductor devices. Part 11. Sectional specification for discrete devices Область применения: Настоящий стандарт распространяетя на полупроводниковые дискретные приборы, за исключением оптоэлектронных приборов Нормативные ссылки: IEC 60747-11(1985)IEC 60068-2-17(1978);IEC 60147-2В(1970);IEC 60147-2С(1970);IEC 60147-2М(1980);IEC 60191-2(1966);IEC 60747-1(1983);IEC 60747-2(1983);IEC 60747-6(1983);IEC 60747-8(1984);IEC 60747-10(1984);IEC 60749(1984);ГОСТ 28210-89;ГОСТ 17467-88;ГОСТ 18472-88;ГОСТ 28578-90 |
