46 |
ГОСТ 24613.11-77 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов |
01.07.1978 |
действующий |
| Англ. название: Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring input voltage for low and high levels of logic signal switches Область применения: Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней Нормативные ссылки: ГОСТ 24613.0-81 |
47 |
ГОСТ 24613.12-77 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов |
01.07.1978 |
действующий |
| Англ. название: Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring output voltage for low and high levels of logic signal switches Область применения: Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения выходного напряжения низкого и высокого уровней Нормативные ссылки: ГОСТ 24613.0-81 |
48 |
ГОСТ 24613.13-77 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного тока короткого замыкания переключателей логических сигналов |
01.01.1979 |
действующий |
| Англ. название: Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring short circuit of logic signal switches Область применения: Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения выходного тока короткого замыкания Нормативные ссылки: ГОСТ 24613.0-81 |
49 |
ГОСТ 24613.14-77 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения токов потребления при низком и высоком уровнях выходного напряжения переключателей логических сигналов |
01.01.1979 |
действующий |
| Англ. название: Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring consumption currents of low and high levels of logic signal switches Область применения: Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения токов потребления при низком и высоком уровнях выходного напряжения Нормативные ссылки: ГОСТ 24613.0-81 |
50 |
ГОСТ 24613.15-77 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока потребления, переключения и длительности тока потребления переключения переключателей логических сигналов |
01.01.1979 |
действующий |
| Англ. название: Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring consumption carrent of switching and its duration of logic signal switches Область применения: Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения тока потребления переключения и длительности тока потребления переключения Нормативные ссылки: ГОСТ 24613.0-81 |
51 |
ГОСТ 24613.16-77 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения начального остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов |
01.07.1978 |
действующий |
| Англ. название: Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring initial residual voltage of analogue signal commutators Область применения: Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов интегральных оптоэлектронных микросхем и устанавливает метод измерения начального остаточного напряжения Нормативные ссылки: ГОСТ 24613.0-81 |
52 |
ГОСТ 24613.17-77 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного дифференциального сопротивления коммутаторов аналоговых сигналов |
01.07.1978 |
действующий |
| Англ. название: Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring output differential resistance of analogue signal commutators Область применения: Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов интегральных оптоэлектронных микросхем и устанавливает метод измерения выходного дифференциального сопротивления Нормативные ссылки: ГОСТ 24613.0-81 |
53 |
ГОСТ 24613.18-77 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения сопротивления изоляции |
01.01.1979 |
действующий |
| Англ. название: Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Methods for measuring isolation resistance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптопары и оптоэлектронные интегральные микросхемы и устанавливает метод измерения сопротивления изоляции Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3790-82ГОСТ 24613.0-81 |
54 |
ГОСТ 24613.19-77 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения коэффициента передачи по току |
01.07.1978 |
действующий |
| Англ. название: Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring current transfer ratio Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптопары и оптоэлектронные интегральные микросхемы и устанавливает метод измерения коэффициента передачи тока Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3790-82ГОСТ 24613.0-81 |
55 |
ГОСТ 26949-86 |
Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров непрерывных стабилизаторов напряжения |
01.01.1988 |
действующий |
| Англ. название: Integrated microcircuits. Methods for measuring of electrical parameters of continuous voltage regulators Область применения: Настоящий стандарт распространяется на непрерывные стабилизаторы напряжения и устанавливает методы измерения электрических параметров: нестабильности по напряжению; нестабильности по току; коэффициента сглаживания пульсаций; температурного коэффициента напряжения; дрейфа выходного напряжения Нормативные ссылки: СТ СЭВ 1622-79ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 12.2.007-75;ГОСТ 12.2.091-83 |
56 |
ГОСТ 26975-86 |
Микросборки. Термины и определения |
01.01.1989 |
действующий |
| Англ. название: Micro-assemblies. Terms and definitions Область применения: Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий в области разработки, применения и изготовления микросборок. Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения во всех видах документации и литературы, входящих в сферу действия стандартизации или использующих результаты этой деятельности |
57 |
ГОСТ 27694-88 |
Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения электрических параметров |
01.01.1990 |
действующий |
| Англ. название: Integrated circuits. Low-, intermediate- and high-frequency amplifiers. Methods for measuring electric parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на усилители низкой, промежуточной и высокой частоты и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров Нормативные ссылки: ГОСТ 12.1.019-79;ГОСТ 12.1.030-81;ГОСТ 12.2.003-91;ГОСТ 12.2.007.2-75;ГОСТ 12.3.019-80;ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 19480-89;ГОСТ 22261-94 |
58 |
ГОСТ 27780-88 |
Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи. Методы измерения электрических параметров |
01.01.1990 |
действующий |
| Англ. название: Integrated circurts. Multiplexers and switches. Methods for measurement of electric parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на микросхемы класса коммутаторов и ключей и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров микросхем Нормативные ссылки: IEC 60748-1(1984)ГОСТ 12.1.030-81;ГОСТ 12.2.007.0-75;ГОСТ 12.3.019-80;ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 19480-74;ГОСТ 19799-74;ГОСТ 22261-82 |
59 |
ГОСТ 28111-89 |
Микросборки на цилиндрических магнитных доменах. Термины и определения |
01.07.1990 |
действующий |
| Англ. название: Bubble memory device. Terms and definitions Область применения: Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий в области микросборок на цилиндрических магнитных доменах Нормативные ссылки: ГОСТ 19693-74;ГОСТ 25492-82 |
60 |
ГОСТ 28623-90 |
Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы |
01.01.1991 |
действующий |
| Англ. название: Semiconductor devices. Part 10. General specification for discrete devices and integrated circuits Область применения: Настоящий стандарт устанавливает общие технические условия на полупроводниковые приборы, дискретные приборы и интегральные микросхемы, включая многокристальные микросхемы, за исключением оптоэлектронных приборов и интегральных микросхем Нормативные ссылки: IEC 60747-10(1984)ISO 1000:1978;ISO 2015:1976;ISO 2859:1974;IEC 60068-1(1988);IEC 60068-2(1982);IEC 60147-0(1966);IEC 60147-1(1972);IEC 60147-2(1963);IEC 60147-4(1976);IEC 60147-5;IEC 60148(1969);IEC 60191-1(1966);IEC 60191-2(1966);IEC 60191-3(1974);IEC 60410(1973) |